Scanning Probe Microscopy of Functional Materials

Nanoscale Imaging and Spectroscopy

,

Éditeur :

Springer

Paru le : 2010-12-13

The goal of this book is to provide a general overview of the rapidly developing field of novel scanning probe microscopy (SPM) techniques for characterization of a wide range of functional materials, including complex oxides, biopolymers, and semiconductors. Many recent advances in condensed matter...
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À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2010-12-13

Pages
555 pages

EAN papier
9781441965677

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN EPUB
9781441971678
Prix
210,99 €
Nombre pages copiables
5
Nombre pages imprimables
55
Taille du fichier
15647 Ko

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