Introduction to Quantum Metrology

The Revised SI System and Quantum Standards

Éditeur :

Springer

Paru le : 2019-05-30

This book discusses the theory of quantum effects used in metrology, and presents the author’s research findings in the field of quantum electronics. It also describes the quantum measurement standards used in various branches of metrology, such as those relating to electrical quantities, mass, leng...
Voir tout
Ce livre est accessible aux handicaps Voir les informations d'accessibilité
Ebook téléchargement , DRM LCP 🛈 DRM Adobe 🛈
Compatible lecture en ligne (streaming)
168,79
Ajouter à ma liste d'envies
Téléchargement immédiat
Dès validation de votre commande
Image Louise Reader présentation

Louise Reader

Lisez ce titre sur l'application Louise Reader.

À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2019-05-30

Pages
326 pages

EAN papier
9783030196769

Auteur(s) du livre


Waldemar Nawrocki is a professor of electronics at Poznan University of Technology, Poland, where he earned a Ph.D. in technical sciences in 1981. Dr.  Nawrocki also holds a D.Sc. in physics from Jena University, Germany (since 1990). His research fields are: Quantum Metrology, Measurement System, Nanoelectronics and  Cryoelectronics. W. Nawrocki has published 15 books. From 2006 to 2016 he has organized and chaired five international conferences on quantum metrology in Poznan.

Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783030196776
Prix
168,79 €
Nombre pages copiables
3
Nombre pages imprimables
32
Taille du fichier
10424 Ko
EAN EPUB
9783030196776
Prix
168,79 €
Nombre pages copiables
3
Nombre pages imprimables
32
Taille du fichier
41288 Ko

Suggestions personnalisées