Advanced Computing in Electron Microscopy

Éditeur :

Springer

Paru le : 2020-03-09

This updated and revised edition of a classic work provides a summary of methods for numerical computation of high resolution conventional and scanning transmission electron microscope images. At the limits of resolution, image artifacts due to the instrument and the specimen interaction can complic...
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À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2020-03-09

Pages
354 pages

EAN papier
9783030332594

Auteur(s) du livre


Earl J. Kirkland graduated from Case Western Reserve University with a BS in Physics, and from Cornell University with a PhD in Applied Physics. He currently teaches in the Applied Physics Department at Cornell. 

Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783030332600
Prix
179,34 €
Nombre pages copiables
3
Nombre pages imprimables
35
Taille du fichier
11100 Ko
EAN EPUB
9783030332600
Prix
179,34 €
Nombre pages copiables
3
Nombre pages imprimables
35
Taille du fichier
20050 Ko

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