Semiconductor Laser Engineering, Reliability and Diagnostics

A Practical Approach to High Power and Single Mode Devices

Éditeur :

Wiley

Paru le : 2013-01-25

This reference book provides a fully integrated novel approach to the development of high-power, single-transverse mode, edge-emitting diode lasers by addressing the complementary topics of device engineering, reliability engineering and device diagnostics in the same book, and thus closes the gap i...
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À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2013-01-25

Pages
520 pages

EAN papier
9781119990338

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9781118481875
Prix
103,99 €
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
520
Taille du fichier
24760 Ko
EAN EPUB
9781118481868
Prix
103,99 €
Nombre pages copiables
0
Nombre pages imprimables
520
Taille du fichier
8878 Ko

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