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Research on the Radiation Effects and Compact Model of SiGe HBT

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Éditeur :

Springer

Collection : Springer Theses

Paru le : 2017-10-24

This book primarily focuses on the radiation effects and compact model of silicon-germanium (SiGe) heterojunction bipolar transistors (HBTs). It introduces the small-signal equivalent circuit of SiGe HBTs including the distributed effects, and proposes a novel direct analytical extraction technique ...
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Description du livre


This book primarily focuses on the radiation effects and compact model of silicon-germanium (SiGe) heterojunction bipolar transistors (HBTs). It introduces the small-signal equivalent circuit of SiGe HBTs including the distributed effects, and proposes a novel direct analytical extraction technique based on non-linear rational function fitting. It also presents the total dose effects irradiated by gamma rays and heavy ions, as well as the single-event transient induced by pulse laser microbeams. It offers readers essential information on the irradiation effects technique and the SiGe HBTs model using that technique.

À propos

Auteur
Yabin Sun
Éditeur
Springer
Collection
Springer Theses
Parution
2017-10-24
Pages
168 pages
EAN papier
9789811046117

Auteur(s) du livre


Defaut-Illustration Yabin Sun

Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9789811046124
Prix
94,94 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
16
Taille du fichier
9615 Ko
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EAN EPUB
9789811046124
Prix
94,94 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
16
Taille du fichier
3820 Ko
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