Nanomechanical and Nanoelectromechanical Phenomena in 2D Atomic Crystals

A Scanning Probe Microscopy Approach
de

Éditeur :

Springer

Collection : Springer Theses

Paru le : 2017-11-27

This thesis introduces a unique approach of applying atomic force microscopy to study the nanoelectromechanical properties of 2D materials, providing high-resolution computer-generated imagery (CGI) and diagrams to aid readers’ understanding and visualization. The isolation of graphene and, shortly ...
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À propos


Éditeur

Collection

Parution
2017-11-27

Pages
122 pages

EAN papier
9783319701806

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783319701813
Prix
94,94 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
12
Taille du fichier
8038 Ko
EAN EPUB
9783319701813
Prix
94,94 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
12
Taille du fichier
4854 Ko

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