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Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

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Éditeur :

Springer

Paru le : 2018-02-23

The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensiv...
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Description du livre


The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.

À propos

Auteur
Jens Lienig , Matthias Thiele
Éditeur
Springer
Collection
n.c
Parution
2018-02-23
Pages
159 pages
EAN papier
9783319735573

Auteur(s) du livre


Defaut-Illustration Jens Lienig
Defaut-Illustration Matthias Thiele

Caractéristiques détaillées - droits

EAN PDF
9783319735580
Prix
89,66 €
Nombre pages copiables
1
Nombre pages imprimables
15
Taille du fichier
5796 Ko
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