Process Variations and Probabilistic Integrated Circuit Design

de

,

Éditeur :

Springer

Paru le : 2011-11-20

Uncertainty in key parameters within a chip and between different chips in the deep sub micron area plays a more and more important role. As a result, manufacturing process spreads need to be considered during the design process. Quantitative methodology is needed to ensure faultless functionality, ...
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À propos


Éditeur

Collection
n.c

Parution
2011-11-20

Pages
252 pages

EAN papier
9781441966209

Auteur(s) du livre



Caractéristiques détaillées - droits

EAN EPUB
9781441966216
Prix
94,94 €
Nombre pages copiables
2
Nombre pages imprimables
25
Taille du fichier
4229 Ko

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